賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160ERSeries簡(jiǎn)介：

   1.X-RAYINSPECT*TEM：

   搭載Micro-focusOpenTube(160kV)和FlatPanelDetector，可獲取高清晰，高倍率圖像，可靈活應用在分析及工藝流程檢中的缺陷檢查。此外，通過(guò)特別的減震機構，可穩定且快速的分析不良產(chǎn)品?？煞€定的實(shí)現2.5DTilt檢測，也可以根據用戶(hù)及各種Application選擇不同Option。

   2.X-raySimple&Easy2.5D：

   1）Max可實(shí)現900x900mm的Tablesize，可檢測大型PCB和LED。

   2）通過(guò)采用雙臂支撐的Z軸結構方式，可輕松解決震動(dòng)引起的圖像殘影問(wèn)題。

   3）Detector傾斜角度最大可達70°,可通過(guò)Rotation軸輕松獲取2.5D圖像。

   4）通過(guò)DetectorR軸結構的改善增加了檢測區域及機構的穩定性。

    賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160ERSeries等，歡迎咨詢(xún)上海賽可，我們?yōu)槟峁┑膮?、價(jià)格、型號、原理等信息，160ERSeries產(chǎn)地為韓國、品牌為賽可，歡迎大家咨詢(xún)。